Spring til hovednavigation Spring til søgning Spring til hovedindhold

What nano-physical properties can be determined by analysis of elastic peak accompanied by its inelastic background tail in XPS and AES spectra?

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

OriginalsprogEngelsk
TidsskriftJournal of Surface Analysis
Udgave nummer13
Sider (fra-til)148- 155
ISSN1341-1756
StatusUdgivet - 2006

Citationsformater