Revealing the active layer morphology within complete solar cell devices via spectroscopic ellipsometry

S. Engmann, V. Turkovic, H. Hoppe, G. Gobsch*

*Kontaktforfatter

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Fingeraftryk

Dyk ned i forskningsemnerne om 'Revealing the active layer morphology within complete solar cell devices via spectroscopic ellipsometry'. Sammen danner de et unikt fingeraftryk.

Material Science