Spring til hovednavigation Spring til søgning Spring til hovedindhold

Novel applications of inelastic background XPS analysis:3D imaging and HAXPES

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

OriginalsprogEngelsk
TidsskriftJournal of Surface Analysis
Vol/bind24
Udgave nummer2
Sider (fra-til)107-114
ISSN1341-1756
DOI
StatusUdgivet - 2017

Citationsformater