Near-field characterization of ultra-thin metal films

D. I. Yakubovsky*, A. V. Arsenin, R. V. Kirtaev, G. A. Ermolaev, Y. S. Stebunov, V. S. Volkov

*Kontaktforfatter

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikelForskningpeer review

39 Downloads (Pure)

Fingeraftryk

Dyk ned i forskningsemnerne om 'Near-field characterization of ultra-thin metal films'. Sammen danner de et unikt fingeraftryk.

Fysik og astronomi