Energy loss in XPS: Fundamental processes and applications for quantification, non-destructive depth profiling and 3D imaging

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Abstrakt

Udgivelsesdato: 2010
OriginalsprogEngelsk
TidsskriftJournal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
Vol/bind178
Sider (fra-til)128-153
Antal sider26
ISSN0368-2048
DOI
StatusUdgivet - 1. jan. 2010

Citationsformater