Elastic and inelastic scattering of electrons emitted from solids: effects on energy spectra and depth profiling in xps/aes

A.L. Tofterup, S. Tougaard, P. Sigmund

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

OriginalsprogEngelsk
TidsskriftSurface and Interface Analysis
Vol/bind9
Udgave nummer2
Sider (fra-til)130
ISSN0142-2421
DOI
StatusUdgivet - jul. 1986

Citationsformater