Determining the Dielectric Tensor of Micro-Textured Organic Thin Films by Imaging Mueller Matrix Ellipsometry

Sebastian Funke, Matthias Duwe, Frank Balzer, Peter H. Thiesen, Kurt Hingerl, Manuela Schiek

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

17 Downloads (Pure)

Fingeraftryk

Dyk ned i forskningsemnerne om 'Determining the Dielectric Tensor of Micro-Textured Organic Thin Films by Imaging Mueller Matrix Ellipsometry'. Sammen danner de et unikt fingeraftryk.

Teknik og materialevidenskab

Kemiske forbindelser

Fysik og astronomi