| Originalsprog | Engelsk |
|---|---|
| Patentnummer | WO/2005/052557 |
| Land/Område | Danmark |
| Status | Udgivet - 2005 |
| Udgivet eksternt | Ja |
An Examination System for Examination of a Specimen; Sub-units and Units therefore, a Sensor and a Microscope
P. Thomsen (Opfinder), T. Nikolajsen (Opfinder), Sergey Bozhevolnyi (Opfinder), M.H. Sørensen (Opfinder)
Publikation: Patent