Sven Mosbæk Tougaard

2023

Determination of the primary excitation spectra in XPS and AES

Pauly, N., Yubero, F. & Tougaard, S., 2023, I: Nanomaterials. 13, 2, 339.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

2 Downloads (Pure)

2022

Improved depth information from routine analysis of the inelastic background of XPS and HAXPES spectra using optimized two- and three-parameter cross-sections

Zborowski, C. & Tougaard, S., apr. 2022, I: Surface and Interface Analysis. 54, 4, s. 433-441

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

16 Downloads (Pure)

QUEELS: Software to calculate the energy loss processes in TEELS, REELS, XPS and AES including effects of the core hole

Tougaard, S., Pauly, N. & Yubero, F., jul. 2022, I: Surface and Interface Analysis. 54, 7, s. 820-833

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

32 Downloads (Pure)

XPS quantification with universal inelastic electron scattering cross section including intrinsic excitations

Gnacadja, E., Pauly, N., Kang, H. J. & Tougaard, S., dec. 2022, I: Surface and Interface Analysis. 54, 12, s. 1186-1191

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

2021

Inelastic background modelling applied to hard X-ray photoelectron spectroscopy of deeply buried layers: A comparison of synchrotron and lab-based (9.25 keV) measurements

Spencer, B. F., Maniyarasu, S., Reed, B. P., Cant, D. J. H., Ahumada-Lazo, R., Thomas, A. G., Muryn, C. A., Maschek, M., Eriksson, S. K., Wiell, T., Lee, T. L., Tougaard, S., Shard, A. G. & Flavell, W. R., 1. mar. 2021, I: Applied Surface Science. 541, 148635.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

42 Downloads (Pure)

Inelastic electron scattering by the gas phase in near ambient pressure XPS measurements

Pielsticker, L., Nicholls, R., Beeg, S., Hartwig, C., Klihm, G., Schlögl, R., Tougaard, S. & Greiner, M., jul. 2021, I: Surface and Interface Analysis. 53, 7, s. 605-617

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

22 Downloads (Pure)

Practical guide to the use of backgrounds in quantitative XPS

Tougaard, S., jan. 2021, I: Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films. 39, 23 s., 011201.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

57 Downloads (Pure)

Systematic and collaborative approach to problem solving using X-ray photoelectron spectroscopy

Fairley, N., Fernandez, V., Richard‐Plouet, M., Guillot-Deudon, C., Walton, J., Smith, E., Flahaut, D., Greiner, M., Biesinger, M., Tougaard, S., Morgan, D. & Baltrusaitis, J., 1. sep. 2021, I: Applied Surface Science Advances. 5, 9 s., 100112.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

81 Downloads (Pure)

Using the inelastic background in hard x-ray photoelectron spectroscopy for a depth-resolved analysis of the CdS/Cu(In,Ga)Se₂interface

Hauschild, D., Steininger, R., Hariskos, D., Witte, W., Tougaard, S., Heske, C. & Weinhardt, L., 1. dec. 2021, I: Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films. 39, 6, 9 s., 063216.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

12 Downloads (Pure)

2020

Determining nonuniformities of core-shell nanoparticle coatings by analysis of the inelastic background of X-ray photoelectron spectroscopy survey spectra

Müller, A., Sparnacci, K., Unger, W. E. S. & Tougaard, S., nov. 2020, I: Surface and Interface Analysis. 52, 11, s. 770-777

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

30 Downloads (Pure)

Effects of background gas composition and pressure on 1,4-polymyrcene (and polytetrafluoroethylene) spectra in near-ambient pressure XPS

Patel, D. I., Matic, A., Schlaad, H., Bahr, S., Dietrich, P., Meyer, M., Thissen, A., Tougaard, S. M. & Linford, M. R., 2020, I: Surface Science Spectra. 27, 014005.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

55 Downloads (Pure)

Method to correct ambient pressure XPS for the distortion caused by the gas

Tougaard, S. & Greiner, M., 15. nov. 2020, I: Applied Surface Science. 530, 147243.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

9 Downloads (Pure)

Optical properties of molybdenum in the ultraviolet and extreme ultraviolet by reflection electron energy loss spectroscopy

Pauly, N., Yubero, F. & Tougaard, S., 2020, I: Applied Optics. 59, 14, s. 4527-4532 6 s.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Universal inelastic electron scattering cross-section including extrinsic and intrinsic excitations in XPS

Gnacadja, E., Pauly, N. & Tougaard, S., jul. 2020, I: Surface and Interface Analysis. 52, 7, s. 413-421

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

45 Downloads (Pure)

2019

Determining the Thickness and Completeness of the Shell of Polymer Core-Shell Nanoparticles by X-ray Photoelectron Spectroscopy, Secondary Ion Mass Spectrometry, and Transmission Scanning Electron Microscopy

Müller, A., Heinrich, T., Tougaard, S., Werner, W. S. M., Hronek, M., Kunz, V., Radnik, J., Stockmann, J. M., Hodoroaba, V. D., Benemann, S., Nirmalananthan-Budau, N., Geißler, D., Sparnacci, K. & Unger, W. E. S., 12. nov. 2019, I: Journal of Physical Chemistry C. 123, 49, s. 29765-29775 11 s.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

108 Downloads (Pure)

Theoretical study toward rationalizing inelastic background analysis of buried layers in XPS and HAXPES

Zborowski, C. & Tougaard, S. M., 1. aug. 2019, I: Surface and Interface Analysis. 51, 8, s. 857-873

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

135 Downloads (Pure)

XPS primary excitation spectra of Zn 2p, Fe 2p, and Ce 3d from ZnO, α-Fe₂O₃, and CeO₂

Pauly, N., Yubero, F., Espinós, J. P. & Tougaard, S., 1. mar. 2019, I: Surface and Interface Analysis. 51, 3, s. 353-360

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

99 Downloads (Pure)

2018

Determination of the input parameters for inelastic background analysis combined with HAXPES using a reference sample

Zborowski, C., Renault, O., Torres, A., Yamashita, Y., Grenet, G. & Tougaard, S., 2018, I: Applied Surface Science. 432, Part A, s. 60-70

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Impact of curing time on ageing and degradation of phenol-urea-formaldehyde binder

Okhrimenko, D. V., Thomsen, A. B., Ceccato, M., Johansson, D. B., Lybye, D., Bechgaard, K., Tougaard, S. & Stipp, S. L. S., 2018, I: Polymer Degradation and Stability. 152, s. 86-94

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

187 Downloads (Pure)

Åben adgang

Fil

163 Downloads (Pure)

2017

Effective inelastic scattering cross-sections for background analysis in HAXPES of deeply buried layers

Risterucci, P., Renault, O., Zborowski, C., Bertrand, D., Torres, A., Rueff, J-P., Ceolin, D., Grenet, G. & Tougaard, S. M., 2017, I: Applied Surface Science. 402, s. 78-85

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

11 Downloads (Pure)

Novel applications of inelastic background XPS analysis:3D imaging and HAXPES

Tougaard, S. M., 2017, I: Journal of Surface Analysis. 24, 2, s. 107-114

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Optical properties and electronic transitions of zinc oxide, ferric oxide, cerium oxide, and samarium oxide in the ultraviolet and extreme ultraviolet

Pauly, N., Yubero, F., Espinós, J. P. & Tougaard, S., 2017, I: Applied Optics. 56, 23, s. 6611-6621

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Thickness and structure of thin films determined by background analysis in hard X-ray photoelectron spectroscopy

Cui, Y-T., Tougaard, S. M., Oji, H., Son, J-Y., Sakamoto, Y., Matsumoto, T., Yang, A., Sakata, O., Song, H. & Hirosawa, I., 2017, I: Journal of Applied Physics. 121, 10 s., 225307.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

224 Downloads (Pure)

2016

Band-Gap Widening at the Cu(In,Ga)(S,Se)2 Surface: A Novel Determination Approach Using Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy

Hauschild, D., Handick, E., Gö hl-Gusenleitner, S., Meyer, F., Schwab, H., Benkert, A., Pohlner, S., Palm, J., Tougaard, S. M., Heske, C., Weinhardt, L. & Reinert, F., 2016, I: ACS Applied Materials & Interfaces. 8, 32, s. 21101-21105

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Fil

329 Downloads (Pure)

Composition dependence of dielectric and optical properties of Hf-Zr-silicate thin films grown on Si(100) by atomic layer deposition

Tahir, D., Oh, S. K., Kang, H. J. & Tougaard, S. M., 2016, I: Thin Solid Films. 616, s. 425-430

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

11 Downloads (Pure)

Determination of electronic properties of nanostructures using reflection electron energy loss spectroscopy: Nano-metalized polymer as case study

Deris, J., Hajati, S., Tougaard, S. M. & Zaporojtchenko, V., 2016, I: Applied Surface Science. 377, s. 44-47

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

27 Downloads (Pure)

Quantitative analysis of Ni 2p photoemission in NiO and Ni diluted in a SiO2 matrix

Pauly, N., Yubero, F., García-García, F. J. & Tougaard, S. M., 2016, I: Surface Science. 644, s. 46-52

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

60 Downloads (Pure)

Quantitative analysis of reflection electron energy loss spectra to determine electronic and optical properties of Fe–Ni alloy thin films

Tahir, D., Oh, S. K., Kang, H. J. & Tougaard, S. M., 2016, I: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 206, s. 6-11

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

51 Downloads (Pure)

Quantitative analysis of satellite structures in XPS spectra of gold and silver

Pauly, N., Yubero, F. & Tougaard, S. M., 2016, I: Applied Surface Science. 383, s. 317-323

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Quantitative spectromicroscopy from inelastically scattered photoelectrons in the hard X-ray range

Renault, O., Zborowski, C., Risterucci, P., Wiemann, C., Grenet, G., Schneider, C. M. & Tougaard, S. M., 2016, I: Applied Physics Letters. 109, 1, 5 s., 011602.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

197 Downloads (Pure)

2015

Effects of cation compositions on the electronic properties and optical dispersion of indium zinc tin oxide thin films by electron spectroscopy

Tougaard, S. M., 2015, I: Materials Research Bulletin. 62, s. 222-231 10 s.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Fil

721 Downloads (Pure)

Primary excitation spectra in XPS and AES of Cu, CuO: Relative importance of surface and core hole effects

Pauly, N. & Tougaard, S. M., 2015, I: Surface Science. 641, s. 326-329 20434.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

2014

Determination of the Cu 2p primary excitation spectra for Cu, Cu2O and CuO

Tougaard, S. M., 2014, I: Surface Science. 620, s. 17-22

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Fil

684 Downloads (Pure)

Electronic and optical properties of Fe, Pd, and Ti studied by reflection electron energy loss spectroscopy

Tougaard, S. M., 2014, I: Journal of Applied Physics. 115, 243508 , 6 s., 243508 .

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Fil

268 Downloads (Pure)

Inelastic background analysis of HAXPES spectra: towards enhanced bulk sensitivity in photoemission

Tougaard, S. M., 2014, I: Surface and Interface Analysis. 46, s. 906-910 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Fil

339 Downloads (Pure)

LMM Auger primary excitation spectra of copper

Tougaard, S. M., 2014, I: Surface Science. 630, s. 294-299 6 s.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Fil

889 Downloads (Pure)

Fil

399 Downloads (Pure)

The growth of cobalt oxides on HOPG and SiO2 surfaces: A comparative study

Tougaard, S. M., 2014, I: Surface Science. 624, June, s. 145-153

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

2013

Effects of gas environment on electronic and optical properties of amorphous indium zinc tin oxide thin films

Tougaard, S. M., 2013, I: Journal of Vacuum Science & Technology. A: International Journal Devoted to Vacuum, Surfaces, and Films. 31, 3, s. 031508-1 til 031508-7 8 s., 031508.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

651 Downloads (Pure)

Evaluation of robustness to surface conditions of the target factor analysis method for determining the dielectric function from reflection electron energy loss spectra: Application to GaAs

Tougaard, S. M., 2013, I: Surface and Interface Analysis. 45, 6, s. 985-992 8 s.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Factor analysis and advanced inelastic background analysis in XPS: Unraveling time dependent contamination growth on multilayers and thin films

Tougaard, S. M., 2013, I: Surface Science. 616, s. 161-165 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Fil

433 Downloads (Pure)

Sample-morphology effects on x-ray photoelectron peak intensities

Tougaard, S. M., 2013, I: Journal of Vacuum Science & Technology. A: International Journal Devoted to Vacuum, Surfaces, and Films. 31, 2, s. 021402-1 to 021402-7 8 s., 021402.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

408 Downloads (Pure)

Surface excitation parameter for allotropic forms of carbon

Tougaard, S. M., 2013, I: Surface and Interface Analysis. 45, 4, s. 811-816

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Fil

289 Downloads (Pure)

Three-Dimensional X-Ray Photoelectron Tomography on the Nanoscale: Limits of Data Processing by Principal Component Analysis

Hajati, S., Walton, J. & Tougaard, S., 2013, I: Microscopy and Microanalysis. 19, 3, s. 751-760

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Fil

371 Downloads (Pure)

Validity of automated x-ray photoelectron spectroscopy algorithm to determine the amount of substance and the depth distribution of atoms

Tougaard, S. M., 2013, I: Journal of Vacuum Science & Technology. A: International Journal Devoted to Vacuum, Surfaces, and Films. 31, 3, s. 031503-1 to 031503-6 7 s., 031503.

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

Åben adgang

Fil

277 Downloads (Pure)

Sven Mosbæk Tougaard

Publikationer

Søgeresultater