Sven Mosbæk Tougaard

civ. ing., PhD, dr.scient.

  • Campusvej 55

    5230 Odense M

    Danmark

1976 …2020

Publikationer pr. år

Hvis du har foretaget ændringer i Pure, vil de snart blive vist her.

Publikationer

2020

Optical properties of molybdenum in the ultraviolet and extreme ultraviolet by reflection electron energy loss spectroscopy

Pauly, N., Yubero, F. & Tougaard, S., 2020, I : Applied Optics. 59, 14, s. 4527-4532 6 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Proliferation of Faulty Materials Data Analysis in the Literature

Linford, M. R., Smentkowski, V. S., Grant, J. T., Brundle, C. R., Sherwood, P. M. A., Biesinger, M. C., Terry, J., Artyushkova, K., Herrera-Gómez, A., Tougaard, S., Skinner, W., Pireaux, J. J., McConville, C. F., Easton, C. D., Gengenbach, T. R., Major, G. H., Dietrich, P., Thissen, A., Engelhard, M., Powell, C. J. & 2 flere, Gaskell, K. J. & Baer, D. R., feb. 2020, I : Microscopy and Microanalysis. 26, 1, s. 1-2 2 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftKommentar/debatForskningpeer review

Universal inelastic electron scattering cross-section including extrinsic and intrinsic excitations in XPS

Gnacadja, E., Pauly, N. & Tougaard, S., jul. 2020, I : Surface and Interface Analysis. 52, 7, s. 413-421

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

2019

Determining the Thickness and Completeness of the Shell of Polymer Core-Shell Nanoparticles by X-ray Photoelectron Spectroscopy, Secondary Ion Mass Spectrometry, and Transmission Scanning Electron Microscopy

Müller, A., Heinrich, T., Tougaard, S., Werner, W. S. M., Hronek, M., Kunz, V., Radnik, J., Stockmann, J. M., Hodoroaba, V. D., Benemann, S., Nirmalananthan-Budau, N., Geißler, D., Sparnacci, K. & Unger, W. E. S., 12. nov. 2019, I : Journal of Physical Chemistry C. 123, 49, s. 29765-29775 11 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
88 Downloads (Pure)

Theoretical study toward rationalizing inelastic background analysis of buried layers in XPS and HAXPES

Zborowski, C. & Tougaard, S. M., 1. aug. 2019, I : Surface and Interface Analysis. 51, 8, s. 857-873

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
3 Downloads (Pure)

XPS primary excitation spectra of Zn 2p, Fe 2p, and Ce 3d from ZnO, α-Fe2O3, and CeO2

Pauly, N., Yubero, F., Espinós, J. P. & Tougaard, S., 1. mar. 2019, I : Surface and Interface Analysis. 51, 3, s. 353-360

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
2 Downloads (Pure)
2018

Determination of the input parameters for inelastic background analysis combined with HAXPES using a reference sample

Zborowski, C., Renault, O., Torres, A., Yamashita, Y., Grenet, G. & Tougaard, S., 2018, I : Applied Surface Science. 432, Part A, s. 60-70

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Impact of curing time on ageing and degradation of phenol-urea-formaldehyde binder

Okhrimenko, D. V., Thomsen, A. B., Ceccato, M., Johansson, D. B., Lybye, D., Bechgaard, K., Tougaard, S. & Stipp, S. L. S., 2018, I : Polymer Degradation and Stability. 152, s. 86-94

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
19 Downloads (Pure)

Improved XPS analysis by visual inspection of the survey spectrum

Tougaard, S. M., 2018, I : Surface and Interface Analysis. 50, 6, s. 657-666

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Quantitative analysis of Yb 4d photoelectron spectrum of metallic Yb

Pauly, N., Yubero, F. & Tougaard, S. M., 2018, I : Surface and Interface Analysis. 50, 11, s. 1168-1173

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Quantitative determination of elemental diffusion from deeply buried layers by photoelectron spectroscopy

Tougaard, S. M., 2018, I : Journal of Applied Physics. 124, 8, 085115.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
96 Downloads (Pure)
2017

Effective inelastic scattering cross-sections for background analysis in HAXPES of deeply buried layers

Risterucci, P., Renault, O., Zborowski, C., Bertrand, D., Torres, A., Rueff, J-P., Ceolin, D., Grenet, G. & Tougaard, S. M., 2017, I : Applied Surface Science. 402, s. 78-85

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

11 Downloads (Pure)

Novel applications of inelastic background XPS analysis:3D imaging and HAXPES

Tougaard, S. M., 2017, I : Journal of Surface Analysis. 24, 2, s. 107-114

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Optical properties and electronic transitions of zinc oxide, ferric oxide, cerium oxide, and samarium oxide in the ultraviolet and extreme ultraviolet

Pauly, N., Yubero, F., Espinós, J. P. & Tougaard, S., 2017, I : Applied Optics. 56, 23, s. 6611-6621

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Thickness and structure of thin films determined by background analysis in hard X-ray photoelectron spectroscopy

Cui, Y-T., Tougaard, S. M., Oji, H., Son, J-Y., Sakamoto, Y., Matsumoto, T., Yang, A., Sakata, O., Song, H. & Hirosawa, I., 2017, I : Journal of Applied Physics. 121, 10 s., 225307.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
185 Downloads (Pure)
2016

Band-Gap Widening at the Cu(In,Ga)(S,Se)2 Surface: A Novel Determination Approach Using Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy

Hauschild, D., Handick, E., Gö hl-Gusenleitner, S., Meyer, F., Schwab, H., Benkert, A., Pohlner, S., Palm, J., Tougaard, S. M., Heske, C., Weinhardt, L. & Reinert, F., 2016, I : A C S Applied Materials and Interfaces. 8, 32, s. 21101-21105

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Fil
282 Downloads (Pure)

Composition dependence of dielectric and optical properties of Hf-Zr-silicate thin films grown on Si(100) by atomic layer deposition

Tahir, D., Oh, S. K., Kang, H. J. & Tougaard, S. M., 2016, I : Thin Solid Films. 616, s. 425-430

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

11 Downloads (Pure)

Determination of electronic properties of nanostructures using reflection electron energy loss spectroscopy: Nano-metalized polymer as case study

Deris, J., Hajati, S., Tougaard, S. M. & Zaporojtchenko, V., 2016, I : Applied Surface Science. 377, s. 44-47

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

27 Downloads (Pure)

Quantitative analysis of Ni 2p photoemission in NiO and Ni diluted in a SiO2 matrix

Pauly, N., Yubero, F., García-García, F. J. & Tougaard, S. M., 2016, I : Surface Science. 644, s. 46-52

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

60 Downloads (Pure)

Quantitative analysis of reflection electron energy loss spectra to determine electronic and optical properties of Fe–Ni alloy thin films

Tahir, D., Oh, S. K., Kang, H. J. & Tougaard, S. M., 2016, I : Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 206, s. 6-11

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

51 Downloads (Pure)

Quantitative analysis of satellite structures in XPS spectra of gold and silver

Pauly, N., Yubero, F. & Tougaard, S. M., 2016, I : Applied Surface Science. 383, s. 317-323

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Quantitative spectromicroscopy from inelastically scattered photoelectrons in the hard X-ray range

Renault, O., Zborowski, C., Risterucci, P., Wiemann, C., Grenet, G., Schneider, C. M. & Tougaard, S. M., 2016, I : Applied Physics Letters. 109, 1, 5 s., 011602.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
182 Downloads (Pure)
2015
Fil
689 Downloads (Pure)

Primary excitation spectra in XPS and AES of Cu, CuO: Relative importance of surface and core hole effects

Pauly, N. & Tougaard, S. M., 2015, I : Surface Science. 641, s. 326-329

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
2014

Determination of the Cu 2p primary excitation spectra for Cu, Cu2O and CuO

Tougaard, S. M., 2014, I : Surface Science. 620, s. 17-22

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Fil
480 Downloads (Pure)

Electronic and optical properties of Fe, Pd, and Ti studied by reflection electron energy loss spectroscopy

Tougaard, S. M., 2014, I : Journal of Applied Physics. 115, 243508 , 6 s., 243508 .

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Fil
291 Downloads (Pure)

Inelastic background analysis of HAXPES spectra: towards enhanced bulk sensitivity in photoemission

Tougaard, S. M., 2014, I : Surface and Interface Analysis. 46, s. 906-910 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Fil
327 Downloads (Pure)

LMM Auger primary excitation spectra of copper

Tougaard, S. M., 2014, I : Surface Science. 630, s. 294-299 6 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Fil
447 Downloads (Pure)

Modeling of X-ray photoelectron spectra-surface and core hole effects

Tougaard, S. M., 2014, I : Surface and Interface Analysis. 46, 10-11, s. 920-923 4 s., DOI 10.1002/sia.5372.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Morphology of Ferromagnetic Cobalt Nanoparticles Grown on Al2O3 (0001) by Pulsed Laser Deposition

Tougaard, S. M., 2014, I : Journal of Advanced Microscopy Research. 8, p. 1-6, s. 1-6 6 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Probing deeper by Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy

Tougaard, S. M., 2014, I : Applied Physics Letters. 104, 5, 4 s., 051608.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Fil
406 Downloads (Pure)

The growth of cobalt oxides on HOPG and SiO2 surfaces: A comparative study

Tougaard, S. M., 2014, I : Surface Science. 624, June, s. 145-153

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

2013
578 Downloads (Pure)

Factor analysis and advanced inelastic background analysis in XPS: Unraveling time dependent contamination growth on multilayers and thin films

Tougaard, S. M., 2013, I : Surface Science. 616, s. 161-165 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Fil
386 Downloads (Pure)

Sample-morphology effects on x-ray photoelectron peak intensities

Tougaard, S. M., 2013, I : Journal of Vacuum Science & Technology. A: International Journal Devoted to Vacuum, Surfaces, and Films. 31, 2, s. 021402-1 to 021402-7 8 s., 021402.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
357 Downloads (Pure)

Surface excitation parameter for allotropic forms of carbon

Tougaard, S. M., 2013, I : Surface and Interface Analysis. 45, 4, s. 811-816

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Fil
270 Downloads (Pure)

Three-Dimensional X-Ray Photoelectron Tomography on the Nanoscale: Limits of Data Processing by Principal Component Analysis

Hajati, S., Walton, J. & Tougaard, S., 2013, I : Microscopy and Microanalysis. 19, 3, s. 751-760

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Fil
342 Downloads (Pure)
Åben adgang
Fil
259 Downloads (Pure)

X-ray Photoelectron Spectroscopy-Elsevier Reference Module in Chemistry, Molecular Sciences and Chemical Engineering

Tougaard, S. M., 2013, Elsevier Reference Module in Chemistry, Molecular Sciences and Chemical Engineering. Reedijk, J. (red.). Elsevier, 11 s.

Publikation: Kapitel i bog/rapport/konference-proceedingEncyklopædiartikelForskningpeer review

2012

Comparison between surface excitation parameter obtained from QUEELS and SESINIPAC

Tougaard, S. M., 2012, I : Surface and Interface Analysis. 44, s. 1147-1150

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Fil
227 Downloads (Pure)

Dielectric description of the angular dependence of the loss structure in core level photoemission

Tougaard, S. M., 2012, I : Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 185, s. 552-558

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Fil
207 Downloads (Pure)

Electronic and optical properties of Cu, CuO and Cu2O studied by electron spectroscopy

Tougaard, S. M., 2012, I : Journal of Physics: Condensed Matter. 24, s. 175002 8 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Electronic and optical properties of hafnium indium zinc oxide thin film by XPS and REELS

Tougaard, S. M., 2012, I : Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 185, s. 18-22 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Electronic and optical properties of selected polymers studied by reflection electron spectroscopy

Tougaard, S. M., 2012, I : Journal of Applied Physics. 111, s. 054101-1 -054101-7 8 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Reflection electron energy loss spectroscopy for ultrathin gate oxide materials

Tougaard, S. M., 2012, I : Surface and Interface Analysis. 44, s. 623-627 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Fil
613 Downloads (Pure)

Software package to calculate the effects of the core hole and surface excitations on XPS and AES

Tougaard, S. M., 2012, I : Surface and Interface Analysis. 44, s. 1114-1118 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Fil
257 Downloads (Pure)
2011

Controlled adhesion of Salmonella Typhimurium to poly(oligoethylene glycol methacrylate) grafts

Mrabet, B., Mejbri, A., Machouche, S., Gam-Derouich, S., Turmine, M., Mechouet, M., Lang, P., Bakala, H., Bakrouf, A., Tougaard, S. M. & Chehimi, M. M., 2011, I : Surface and Interface Analysis. 43, 11, s. 1436-1443

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Core hole and surface excitation correction parameter for XPS peak intensities

Tougaard, S. M., 2011, I : Surface Science. 605, s. 1556-1562 7 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review