Invited talk: "Nano-structure Information from XPS; Automated data analysis and 3D-imaging"

Aktivitet: Foredrag og mundtlige bidragForedrag og præsentationer i privat eller offentlig virksomhed

Periode4. okt. 2010
BegivenhedstitelInvited lecture at 5th International Symposium on Practical Surface Analysis
BegivenhedstypeKonference
PlaceringGyeongju, SydkoreaVis på kort