Invited talk: "Characterization of Nano-structures from Analysis of the XPS Background: Automation and 3D-imaging"

Aktivitet: Foredrag og mundtlige bidragForedrag og præsentationer i privat eller offentlig virksomhed

Periode29. okt. 20115. nov. 2011
BegivenhedstitelAmerican Vacuum Society 58th
BegivenhedstypeKonference
PlaceringNashville, USAVis på kort