Characterization of nano-structured materials with XPS-peak shape analysis

Aktivitet: Foredrag og mundtlige bidragForedrag og præsentationer i privat eller offentlig virksomhed

Periode20. aug. 2010
BegivenhedstitelUniversity of Science and Technology, Hefei, China
BegivenhedstypeKonference
PlaceringHehei, KinaVis på kort